News and Topics 2011
日本鉄鋼協会・金属学会 中国四国支部 第42回材質制御研究会
「走査型電子顕微鏡を用いた局所結晶方位解析法の応用」
が開催されました。（2011年7月4日）
日本鉄鋼協会・金属学会 中国四国支部 第42回材質制御研究会が島根大学総合理工学部3号館多目的ホールで行われました。内容は「走査型電子顕微鏡を用いた局所結晶方位解析法の応用」で，島根大学にも設置されている走査型電子顕微鏡／後方散乱電子回折解析装置を使った応用について講演がされました。話題は鉄鋼材料の三次元観察，疲労試験の応力解析に応用した事例，様々な材料の表面観察に使用した事例など非常に幅広い内容でした。近畿や四国から参加された方もおり，活発な議論が行われました。
※ 走査型電子顕微鏡／後方散乱電子回折解析装置とは，試料表面に電子線を照射させながら走査し，それにより生じる電子線やX線などの情報を取り出す電子顕微鏡に，結晶方位を解析する為の測定装置をつけた装置です。この装置を使うとナノレベルでの結晶方位を測定したり結晶構造を同定したりすることが出来ます。
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